存储在线 10月8日消息：TDK在其展位上展示了在记录媒体及磁头中同时应用新一代技术，从而把硬盘的面记录密度提高到437Gbit/平方英寸的成果。这一数值相当于在1枚1.8英寸硬盘盘片实现150GB左右的容量。线记录密度为1118kBPI，轨道密度为391kTPI。实用化的日期尚未确定。
记录媒体采用在记录轨道间设置沟槽、以减小相邻轨道影响的离散轨道（Discrete Track）方式，读写磁头则采用旨在取代TMR元件的CPP（Current Perpendicular to Plane）型GMR元件。GMR元件的物理轨道宽度仅为40nm。滑动头采用了借助加热器的热量产生的膨胀使磁头靠近记录媒体的DFH（Dynamic Fly Height）技术。
该公司在05年的CEATEC 2005上，使用垂直记录媒体和TMR元件展示了300GBit/(英寸)2的验证结果。当时的线记录密度为1235kBPI，轨道密度为250kTPI。此次通过采用离散轨道大幅提高了轨道密度。
此次没有使用面记录密度测定方法中常用的、从相邻轨道与偏离轨道容许值的关系来确定轨道密度的“747曲线”。而是从离散轨道媒体的65nm轨道间距推算出了轨道密度。
