2022年7月30日上午，全球闪存峰会期间，闪存测试与特性优化论坛即将召开！本场特邀出品人为华中科技大学武汉光电国家研究中心研究员、教授 吴非，论坛旨在综合评估与优化闪存存储实际表现，促进国内存储标准测试技术的发展和完善。
闪存测试与特性优化论坛可以说是全球闪存峰会的一个全新论坛，也是一个固定技术论坛，原名为闪存测试与分析论坛，先来回顾一下这些年的闪存测试与分析论坛都在聊些什么？
2018年，以“构建闪存新生态”为主题的全球闪存技术峰会在武汉光谷召开，闪存测试与分析技术论坛邀请到了国内外测试机构的专家学者分享闪存相关可靠性和测试技术，为数据存储的安全性和可靠性保驾护航。
比如山东大学信息科学与工程学院陈杰智教授分享了NAND闪存存储器的发展现状，强调3D NAND的高可靠性及建立可靠性体系的重要性。
国家计算机质监中心存储测评实验室阳小珊主任介绍了闪存质量与产业链的关系，闪存及其测试的现状，闪存的质量特性，测试与评价。
到了2020年。全球闪存峰会又进一步邀请到了如华中科技大学光学与电子信息学院教授，刘政林分享闪存芯片可靠性实验中发现的失效现象，并提出对应预防方案，延长存储寿命。
还有西北工业大学计算机学院副教授张晓谈分布式存储系统的测试体系以及闪存、NVM等新型器件对分布式存储系统的影响。
2021年。我们特别邀请到中国电子技术标准化研究院信息技术设备研究室陈海主任分享了存储标准国内外技术、标准化发展现状及国家标准测试技术的发展。吴非教授介绍NAND闪存芯片寿命测试标准制定的思考。SNIA固态硬盘技术工作组主席，Eden Kim谈测量数据中心和云存储设备功率建议标准，还有江波龙闪存研究部部长陶伟带来的闪存测试与分析技术分享。
从历年的闪存测试与分析技术论坛变化可以明显发现，闪存测试与分析论坛因中国计算机行业协会信息存储与安全专委会会长、华中科技大学武汉光电国家实验室谢长生教授以及华中科技大学武汉光电国家研究中心研究员吴非教授两位出品人作为引导者，而始终保持着对闪存存储学术研究的初心，并且越来越聚焦国内存储标准测试技术的发展，以及企业自身的闪存产品测试与分析技术分享。
2022年，出品人吴非教授决定将闪存测试与分析论坛改为闪存测试与特性优化论坛，这是一次新的尝试，测试依然是重点，还有新增加的“特性优化”又会有什么新的惊喜带给大家呢，更多精彩内容，敬请期待！
“2022全球闪存峰会”即将召开！华中科技大学计算机科学与技术学院与百易传媒(DOIT)联袂举办。点击阅读原文，一睹更多精彩！
