8月28日，由DOIT传媒主办，以“芯存储 AI未来”为主题的2024全球闪存峰会将在南京金陵饭店盛大开幕。在下午的AI存储及企业级SSD技术论坛上，华中科技大学武汉光电国家研究中心教授、中国计算机行业协会信息存储与安全专委会副秘书长吴非，将为我们带来首场关于ZNS SSD性能优化方法的技术演讲，深入探讨ZNS SSD在实际应用中面临的挑战，并提出创新的优化方案。
随着数据存储需求的飞速增长，固态硬盘已成为数据中心和企业级存储系统的核心组件。然而，传统的SSD通过FAT表管理数据块，虽然简单易行，但在大规模数据处理时效率较低，容易产生碎片，从而影响整体性能。为了解决这些问题，ZNS SSD应运而生。ZNS（Zoned Namespace）通过将存储空间分区来优化数据写入和垃圾回收，与传统SSD相比，ZNS SSD在空间管理上具备更高的效率和更长的使用寿命。
不过实际应用中，ZNS SSD也面临着诸多挑战。首先，空间利用率较低，导致存储资源浪费。其次，分区大小与应用访问粒度的不匹配增加了主机端垃圾回收的开销。这些问题限制了ZNS SSD在高性能存储环境中的应用，因此，迫切需要有效的优化方法来提升其性能。
在本次论坛上，吴非教授将详细介绍这些挑战，并针对性地提出创新的解决方案。
值得一提的是，吴非教授在本次大会上是有双重身份的，AI存储及企业级SSD技术论坛的演讲嘉宾，以及闪存技术学术论坛的出品人。此前曾在DOIT主办的各个科技峰会上，支持和组织了存储可靠性与测试技术论坛、智能存储与存储新架构论坛、数据创新与安全可控论坛、数据智能论坛、ABC前沿技术论坛等多场活动，分享学术界存储新技术与新趋势。
期待吴非教授在2024全球闪存峰会上的精彩分享！
