DOIT 2011年12月1日北京消息——今天主题为“云领未来 存储载道”的2011中国存储峰会在北京富力万丽酒店拉开帷幕(http://doitworld.doit.com.cn/)。在本次峰会下午的“固态存储与技术创新论坛”分论坛上，英特尔公司存储事业部技术市场经理蒋翔宇为我们带来了题为“下一代可扩展和高效数据保护”的主题演讲。
蒋翔宇现任英特尔存储事业部技术市场经理，负责事业部区域的技术市场客户设计提供技术支持服务。2004年加入英特尔中国公司，获得了国立交通大学电子通信系学士学位和硕士学位。
演讲的内容主要讲解了随着数据快速增长和硬盘的规模日益扩大，大量资料的横向扩展存储技术，云存储解决方案的有潜在数据损坏，不可用和数据丢失的问题的风险。因此，基本的RAID 5和6可能不足以满足所有数据保护可能需要的目标。本次会议提出了一个潜在的数据丢失和错误的概率，可用于评估的RAID数据耐久性模型。此外，会针对新一代的数据保护机制Erasure Coding（EC）做一个介绍。本次会议的主题包括：硬盘耐用性的介绍极其重要性、测量耐用性：平均数据丢失时间（MTTDL）和其它模型、耐用性改善技术、大型存储参考架构。
演讲中提出了一个潜在的数据丢失和错误的概率，可以看到硬盘不可恢复错误概率接近100%，而镜像和奇偶校验RAID的中间时间正在变得难以控制，另外一方面IDC存储容量增长相当明显，这就更加体现了硬盘耐用性的重要。
在讲到数据耐用性时详细讲述了如何通过测量了平均数据丢失时间以及相关的参数来进行测量数据耐用性，并根据常见磁盘阵列进行了比较以及可用于评估的RAID数据耐久性模型。
此外，演讲中谈到了耐用性改善技术，讲解了新一代的数据保护机制 – 擦除编码（EC）。
在大型对象存储机架，一个42U机架中大约有1PB原始存储通过擦除编码，实现高效率、耐用性和可扩展性。而未来得数据中心将在传统的低延迟、优质存储系统上添加低成本、高容量存储。
