合见工软发布测试向量自动生成工具,大幅加速集成电路测试
10月12日,上海合见工业软件集团有限公司宣布推出拥有自主知识产权的商用级、高效测试向量自动生成工具UniVista Tespert ATPG,帮助工程师在进行大规模SoC集成电路设计中实现可测性设计(DFT),以降低测试成本,提升芯片质量...
10月12日,上海合见工业软件集团有限公司宣布推出拥有自主知识产权的商用级、高效测试向量自动生成工具UniVista Tespert ATPG,帮助工程师在进行大规模SoC集成电路设计中实现可测性设计(DFT),以降低测试成本,提升芯片质量...